学部生用で初となるナノ加工研究所が、実習用にケースレーの4200A-SCS型パラメータ・アナライザを採用 テクトロニクスは、本日、米国イリノイ大学アーバナ・シャンペーン校の電気／コンピュータ工学部が、学部生用で初となるマイクロ／ナノ ...

テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、カスタマイズ可能でフル統合型のケースレー4200A-SCS型パラメータ・アナライザを発表します。新しいユーザ、使用頻度の少ないユーザでも特性評価の複雑さから解放され、テスト・セットアップが ...